Оборудование
Направления научных исследований и аналитических работ в ЦКП "Геоаналитик"
1. Электронно-зондовый микроанализ и электронная микроскопия
-
Микроанализатор электронно-зондовый Cameca SX100
-
Микроскоп электронный сканирующий JSM 6390LV
-
Система анализа дифракции обратно-рассеянных электронов EBSD NordlysNano на микроскопе JSM 639LV
-
Система энергодисперсионного анализа EDS X-max 80 на микроскопе JSM 639LV
-
Установка для напыления токопроводящих покрытий Q150TES
2. Микроэлементный масс-спектрометричесий анализ
-
Масс-спектрометр квадрупольный с индуктивно связанной плазмой ELAN 9000
-
Приставка для лазерной абляции LSX-500
-
Блок чистых помещений с оборудованием для подготовки проб к микроэлементному анализу
3. Рентгенофлюоресцентный и спектральный анализ
-
Рентгенофлуоресцентный волновой спектрометр XRF 1800
-
Рентгенофлуоресцентный многоканальный спектрометр СРМ-35
-
Рентгенофлуоресцентный волновой спектрометр VRA-30
-
Рентгенофлуоресцентный энергодисперсионный спектрометр EDX-8000
-
Пресс Atlas Power 25T для пробоподготовки
-
Спектрометр атомно-эмиссионный с индуктивно-связанной плазмой Optima 8000
-
Спектрометр атомно-абсорбционный ContrAA-700
4. Рентгеноструктурный и термический анализ
-
Рентгеновский дифрактометр XRD 7000
-
Оборудование для пробоподготовки и высокотемпературная камера НТК-1200N для рентгеновского дифрактометра
-
Дериватограф Diamond TG-DTA
5. Изотопный масс-спектрометрический анализ и геохронология
-
Масс-спектрометр квадрупольный с индуктивно связанной плазмой NexION 300
-
Масс-спектрометр многоколлекторный термоионизационный Triton Plus
-
Масс-спектрометр многоколлекторный с индуктивно-связанной плазмой Neptune Plus
-
Приставка для лазерной абляции проб NWR 213 ESI
-
Блок чистых помещений с оборудованием для подготовки проб к изотопному анализу
