Оборудование
Направления научных исследований и аналитических работ в ЦКП "Геоаналитик"
-
Электронно-зондовый микроанализ и электронная микроскопия.
-
Микроэлементный масс-спектрометрический анализ.
-
Рентгенофлюоресцентный и спектральный анализ.
-
Рентгеноструктурный и термический анализ.
-
Изотопная геохимия и геохронология.
-
Физика и спектроскопия минералов.
1. Электронно-зондовый микроанализ и электронная микроскопия
- Микроанализатор электронно-зондовый Cameca SX100 с пятью волновыми спектрометрами и энергодисперсионным спектрометром Bruker XFlash 6
- Микроскоп электронный сканирующий JSM 6390LV (Jeol)
- Система анализа дифракции обратно-рассеянных электронов EBSD NordlysNano (Oxford Instruments) для работы с электронным сканирующим микроскопом JSM 639LV
- Система энергодисперсионного анализа EDS X-max 80 (Oxford Instruments) для работы с электронным сканирующим микроскопом JSM 639LV
- Установка для напыления токопроводящих покрытий (углерод, металл) Q150TES (Quorum Technologies)
2. Микроэлементный масс-спектрометричесий анализ
3. Рентгенофлюоресцентный и спектральный анализ
-
Рентгенофлуоресцентный волновой спектрометр XRF 1800 (Shimadzu)
-
Рентгенофлуоресцентный многоканальный спектрометр СРМ-35 (Научприбор)
-
Рентгенофлуоресцентный волновой спектрометр VRA-30 (Carl Zeiss)
-
Рентгенофлуоресцентный энергодисперсионный спектрометр EDX-8000 (Shimadzu)
-
Спектрометр атомно-эмиссионный с индуктивно-связанной плазмой Optima 8000 (Perkin Elmer)
-
Спектрометр атомно-абсорбционный ContrAA-700 (Analytik Jena)
4. Рентгеноструктурный и термический анализ
5. Изотопная геохимия и геохронология
- Масс-спектрометр квадрупольный с индуктивно связанной плазмой NexION 300 (Perkin Elmer)
- Комплекс оборудования в блоке чистых помещений класса 6 по ГОСТ Р ИСО 14644-3-2007 для химического автоклавного и микроволнового разложения твердых проб и их хроматографического разделения
6. Физика и спектроскопия минералов