Сканирующий электронный микроскоп JSM-6390LV фирмы Jeol с энергодисперсионной приставкой INCA Energy 450 X-Max 80 и EBSD-приставкой NordlysNano Oxford Instruments: съемка микрообъектов (максимальное увеличение до 300 000, режимы работы - высоко- и низковакуумный для анализа биологических объектов); анализ их псевдообъемных 3D-изображений с использованием программного пакета Мex 5.1; полуколичественное (качественное) определение элементов от Na до U с содержанием от 0.1 до 100 мас.%; получение картин дифракции обратно-рассеянных электронов.