Сканирующая электронная микроскопия и анализ дифракции обратно рассеянных электронов на электронном микроскопе JSM-6390LV с приставкой ДОРЭ NordlysNano

Сканирующий электронный микроскоп JSM-6390LV фирмы Jeol с приставкой ДОРЭ NordlysNano фирмы Oxford Instruments: анализ микроструктуры и микротекстуры материалов, ориентации отдельных кристаллитов на поверхности поликристаллов, изучение корреляции ориентировок в разных точках, идентификация напряженного и деформированного состояния кристалла, анализ фазового состава и его распределения по поверхности образца с локальностью до 1 мкм. 

Требования к пробам. Подготовка поверхности образцов для изучения дифракции отраженных электронов играет решающее значение для получения качественных дифракционных картин и интерпретации результатов EBSD-анализа. После выполнения механической полировки на алмазных пастах необходима  химико-механическая полировка с использованием коллоидного раствора SiO₂ (50 нм) в течение 2-5 минут, обеспечивающего химическое травление поверхности зерен. Слой углеродного напыления - толщиной 5-7 нм [Prior et al., 1996]. 

Номер услуги в форме заявки - 10.