Сканирующая электронная микроскопия и полуколичественный энергодисперсионный микроанализ минералов на микроскопе JSM-6390LV с приставкой ЭДС INCA Energy350X-Max50

Сканирующий электронный микроскоп JSM-6390LV фирмы Jeol с энергодисперсионной приставкой INCA Energy 450 X-Max 80 и EBSD-приставкой фирмы NordlysNano и Oxford Instruments: съемка микрообъектов (максимальное увеличение до 300 000, режимы работы - высоко- и низковакуумный для анализа биологических объектов); анализ их псевдообъемных 3D-изображений с использованием программного пакета Мex 5.1; полуколичественное (качественное) определение элементов от Na до U с содержанием от 0,1 до 100 мас.%; получение картин дифракции обратно-рассеянных электронов.

Номер услуги в форме заявки - 9.