Электроннозондовый рентгеноспектральный микроанализ химического состава минералов и горных пород на содержание основных элементов в полированных шлифах и сборках на микроанализаторе Cameca SX-100

Микроанализатор SX-100 фирмы Cameca с пятью волновыми спектрометрами  и энергодисперсионной приставкой Bruker XFlash 6: количественное определение (с содержанием от 0,01 до 100 мас.%)  элементов до U, в том числе  легких - О, F и др. в  твердых полированных пробах с локальностью до 1 мкм; элементное картирование зерен; полуколичественное (качественное) определение элементов от Na до U с содержанием от 0,1 до 100 мас.%; регистрация SE-, BSE- и CL-изображений зерен минералов; анализ их текстуры, выделения зон и минеральных включений с применением JPD-методики (Joint Probability Distribution [Вотяков и др., 2014; Zamyatin et.al., 2017]), локальное  неизотопное химическое датирование U-Th-содержащих минералов-геохронометров [Вотяков и др., 2011] .

Требования к пробам. Зерна минералов, фрагменты породы, залитые эпоксидной смолой или сплавом Вуда в полированных шайбах диаметром 2.5 см, либо в виде полированных шлифов длиной не менее 4.5 см. Пробоподготовка предусматривает напыления токопроводящих покрытий (металл, углерод) с ипользованием установки Q150TES (Quorum Technologies Ltd).

Номер услуги в форме заявки - 8.